Scannt elektrische und magnetische Nahfelder

Der EMV-Scanner ICS103 von Langer EMV-Technik ist ein modular aufgebautes IC-Testsystem für die automatische Messung elektrischer und magnetischer Nahfelder an Dice-Oberflächen, Bonddrähten, PINs und IC-Baugruppen.

Der Scanner besteht aus einem 4-Achs-Mover mit Halterungen für je eine  Mikrosonde und ein Videoinspektionsmikroskop. Automatische, frei programmierbare Messalgorithmen ermöglichen es der Sonde, in 20 µm Höhe über der IC-Oberfläche oder den PINs zu fahren. Manuelle Sondenbewegungen erfolgen mit Hilfe eines Joysticks.

Gesteuert wird das Gerätesystem durch die Software »ChipScan«. Die Einsatzmöglichkeiten des Scanners reichen von der Nahfeldaufklärung über den offenen oder geschlossenen IC während seiner Entwicklung bis hin zur Ermittlung seiner EMV-Eigenschaften vor dem Einsatz auf einem PCB.

Langer EMV-Technik
Tel. (0351) 430093-0
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