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Sensor Test
Vom 22. bis 24. Mai 2012 öffnet die Messtechnik- und Sensorik-Fachmesse »Sensor+Test« wieder ihre Pforten. Produktneuheiten und News gibt es in unserem Special.
SMT
Unser Special bündelt News und Produktmeldungen von der Fertigungsmesse »SMT Hybrid Packaging« 2012.
Produkte des Jahres
Webinar
Embedded Systems - Messen, Triggern und Decodieren mit dem Oszi
Im aktuellen Webinar von LeCroy werden Techniken zum Messen und Analysieren von analogen und digitalen Signalen behandelt. Der Schwerpunkt liegt auf praktischen Beispielen, die sich mit dem Mess-Setup,Triggern und Decodieren verschiedener Busse beschäftigen.
goMatlab
Event: Smart Home Summit
Call for Papers!
Auf dem 2. Energie&Technik Smart Home & Metering Summit am 16. -17. Oktober 2012 in Ludwigsburg dreht sich alles um die Themen Smart Home, Smart Metering, Smart Grid.
Infoboxen Messtechnik
Lassen sich mit »Smart Metering« die Stromkosten im Haushalt senken, so wie es die Industrie suggeriert? Offensichtlich nicht so richtig, wie unser Beitrag zeigt.
Sind Sie Up-to-date? Wir haben die aktuellen Produkte aus der Sensorik für Sie, liebe Leser, in einer Bilderstrecke zusammengefasst.
Ohne geeignete Testgeräte Serielle USB-Busse können sich Prüfung und Fehlersuche mühsam gestalten. Hintergrundwissen sowohl über USB-Busse als auch über die Funktionsprüfung eines USB-2.0-Busses mit dem Oszilloskop sind unerlässlich.
Die optische Sensormessung mit Faser-Bragg-Gittern (FBG) verwendet Licht anstelle von Strom sowie handelsübliche Glasfasern anstelle von Kupferdrähten. Glasfasern und optische FBG-Sensoren sind nichtleitend, elektrisch passiv und nicht anfällig gegenüber Rauschen durch elektromagnetische Störung.
Kennen Sie sich aus beim wichtigsten Messgerät der Analog- und Digitaltechnik? Viel Spaß beim Tüfteln!
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Marktübersichten Messen und Testen
Wer bietet was?
Schnelle Information auf einen Klick!
Bauelemente-Qualitätssicherung
Testsysteme passgenau skalieren
Verigy, ein Test- und Prüftechnik-Unternehmen, das früher aus Hewlett-Packard bzw. Agilent Technologies hervorging und das vor einem halben Jahr von der Advantest Group übernommen wurde, hat sein Tester-Portfolio um ein Kompakt-System erweitert. Zusammen mit den anderen Testern dieser Reihe bildet sich damit eine Familie von individuell skalierbaren Testsystemen.
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Um in der ohnehin von Preisdruck gekennzeichneten Bauelemente-Industrie nun eine möglichst individuell anpassbare Tester-Plattform anzubieten, hat Verigy nun die Smart-Scale-Reihe V93000 um das Modell V93000A ergänzt, so dass mit den Testern V93000C bzw –S bzw. –L insgesamt vier Kategorien von Testsystemen verfügbar sind.
Das technisch interessante am gesamten Architekturkonzept ist die Philosophie, hinter jedem Test-Pin eine eigene intelligente Controller-Elektronik zu haben, die zusammen mit ebenfalls individueller Peripherie-Elektronik sozusagen ein eigenes Testsystem darstellt. Kern dieses „Tester-per-Pin“-Konzepts ist ein bei Verigy eigens entwickelter, hochintegrierter Asic-Baustein, der dieses Arbeitspensum erledigt.
Auf diese Weise ist die Pin-Ansteuerung insgesamt deutlich flexibler als bei früheren Konzepten, da jeder Prüflings-Pin mit seh individuellen Signalen angesteuert werden kann, sogar mit völlig eigenem Takt. Besagter Asic-Controller steuert nicht nur das Timing oder die Pegel, er hat auch Speicherbereiche hinter sich, so dass man dem Prüfing eigenes Memory zu Testzwecken zur Verfügung stellen kann, in das hineingeschrieben wird. Die gesamte Drive/Sense-Elektronik ist in diesem „Tester per Pin“ vorhanden. Letztlich ist es sogar möglich, dem Prüflings-Baustein die von ihm ausgegebenen Signale „verändert“ oder „verfälscht“ zurückzuspielen.
Neben den erwähnten V93000-Smart-Scale-Testern bringt Verigy auch drei neue digitale Kanalkarten auf den Markt: die neue „Pin Scale 1600“-Digitalkarte und die „Pin Scale 1600-ME“-Card (Memory Emulation).
Hinzu kommt die Pin Scale 9G-Karte, die At-Speed-Tests erlaubt, und zwar bis hinauf zu Daten-Übertragungsraten von 8 Gbit/s. Diese Karte unterstützt bidirektionale Übertragungen auf allen Pins sowie massebezogene und differentielle Betriebsarten. Außerdem eignet sich die Karte sowohl für Pattern- wie auch für Pattern-lose Tests, um die große Mehrheit von Testanforderungen zu adressieren.
Weiterführende Links:
