Marktübersichten Messen und Testen

Marktübersichten aus dem Bereich Messen + Testen

EEEfCOM 2010: Treffpunkt der Hochfrequenz- und Nachrichtentechnikbranche

EEEfCOM 2010
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Alle Produktneuheiten zur Messe »EEEfCOM - Hochfrequenzelektronik, Komponenten, Module, EMV, Medizintechnik und drahtlose Sensortechnik« im Überblick

Oszilloskop-Quiz

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Kennen Sie sich aus beim wichtigsten Messgerät der Analog- und Digitaltechnik? Viel Spaß beim Tüfteln!

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Sensor-Neuheiten - Sensor+Test 2010

Sensor-Neuheiten - Sensor+Test 2010
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Sensor-Neuheiten der Sensor+Test 2010 zum, Durchklicken. 

Mixed-Signal-Oszilloskope

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Die Vielfalt der Analyse-Varianten in den Scopes wird größer, was für den Anwender einerseits sehr nützlich ist, was andererseits aber ein intensiveres »Sich-Befassen« mit den angebotenen Geräten erfordert. Ein kurzer Überblick über die Neuheiten am Markt.

Under Pressure - aktuelle Drucksensoren im Überblick

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Die Produkte des Jahres 2010

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Unsere Leser haben die Produkte des Jahres 2010 gewählt. Eine Übersicht über alle Gewinner, Produkte und Kategorien.


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14. August 2009

Erster portabler 100-GigE-Tester

Den Anforderungen moderner 40- und 100-Gigabit-Ethernet-Architekturen haben sich bislang nur wenige Messgeräte-Hersteller gestellt. Mit dem ersten portablen 100-GigE-Testmodul greift nun auch Exfo nach Marktanteilen in diesem wachsenden Segment.

Nicole Kothe, Markt&Technik

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Bandbreitenanforderungen für Datacenter Computing und Netzwerk-Speicherlösungen sowie die steigende Zahl an Video- und Highspeed-Applikationen im Internet bei rasch zunehmenden FTTx-Installationen sind die treibenden Faktoren für die immer höheren Datenraten. Dabei haben die einzelnen Anwendungen IPTV, Video-on-Demand, IP-Datentransfer, mobile Breitbanddienste, VPN-Services oder Peer-to-Peer-Übertragungen für sich gesehen nur geringe Auswirkungen auf die Zuwachsrate. Es ist die Summe all dieser Anwendungen, die die enorme Zuwachsrate an Bandbreite in den Netzwerken der Betreiber verursacht - und diese damit vor ganz neue Herausforderungen stellt.

»Im Jahr 2008 hat die IEEE den Ethernet-Standard 802.3ba geschaffen, der die Datenraten 40 Gbit und 100 Gbit definiert«, erklärt Andreas Pfaffinger, Vertriebsleiter Transport/Datacom bei Opternus, Distributor für Exfo-Produkte in Deutschland. »Dabei wurden alle Anforderungen an die Übertragungsmedien Kupfer und Glas für diese Datenraten durch die Definition mehrerer physikalischer Schnittstellen normiert.«

Die IEEE-P802.3ba-Erweiterung spezifiziert eine sogenannte »Single Architecture«, die 40- und 100-Gigabit-Ethernet sowie alle physikalischen Ebenen und Subebenen, die noch in der Weiterentwicklung sind. Der MAC-Layer, also der Layer 2 des OSI-Modells, ist über eine dem Layer 1 entsprechende Ethernet-PHY-Schnittstelle mit dem Übertragungsmedium (Glasfaser oder Kupfer) verbunden. Die PHY-Schnittstelle besteht aus einer Physical-Medium-Dependent-Ebene (PMD), einer Physical-Medium-Attachment-Ebene (PMA) und einer Physical-Coding-Ebene (PCS). Die sogenannten »Backplane and copper cabling PHYs« beinhalten eine Autonegotiation- (AN) und eine Forward-Error-Correction-Ebene (FEC).

Alle diese Elemente und Ebenen gilt es, bei der Analyse von 40- und 100-Gbit-Ethernet-Systemen zu verifizieren und dabei auch die Ausnahmen und Fehler bei den Übertragungen zu überprüfen. Exfo adressiert diese Anwendungen mit dem neuen 40G/100G-Ethernet-Testmodul »FTB-85100G Packet Blazer«. Nach Herstellerangaben stellt die Kombination aus dem Grundgerät FTB-500 und dem neuen Modul, neben einer Laborlösung, die erste transportable 100-GigE-Testlösung dar.

Das System unterstützt alle spezifizierten Übertragungsschnittstellen (CFP, CXP, QSFP) und stellt die volle 100-G-Datenrate für PCS-Tests zur Verfügung. Damit können Anwender 40- oder 100-GigE-Systeme bezogen auf Datenraten und Rahmenanalysen in Layer 2 und Layer 3 (MAC, IP) prüfen und Ethernet-Bitfehlertests durchführen. Das Gerät bietet eine ganze Reihe von Test- und Analysefunktionen für das Multilayer-Testing sowie für den schnellen Test der physikalischen Schnittstellen mit exakten Performance-Analysen für Durchsatzraten und Rahmenverluste.