Integration von In-Circuit- und Boundary-Scan-Test

Digitaltest und JTAG Technologies kooperieren

Digitaltest und JTAG Technologies haben ihre Zusammenarbeit im Bereich Testlösungen für elektronische Baugruppen bekannt gegeben. Im ersten Schritt der Kooperation wurde nun JTAGs Boundary-Scan-Testverfahren in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert. Das Ergebnis ist eine höhere Testabdeckung und eine bessere Programmierbarkeit komplexer Baugruppen innerhalb eines einzelnen Prozessschrittes.

 

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Ute Boctor, President von Digitaltest und Peter van den Eijnden, Managing Director von JTAG Technologies.

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Ute Boctor, President von Digitaltest und Peter van den Eijnden, Managing Director von JTAG Technologies.

Durch die steigende Funktionalität komplexer Baugruppen und den Einsatz digitaler Bausteine, die meist in Ball Grid Arrays enthalten sind, ist eine Kombination von In-Circuit-Test und Boundary Scan zwingend notwendig«, erklärt Ute Boctor, President von Digitaltest. »In-Circuit-Tester, die einen direkten Zugriff über Testpunkte benötigen, stoßen hier an ihre Grenzen. Aus diesen Gründen erschien eine Zusammenarbeit beider Firmen äußerst sinnvoll, weil hier fundiertes, auf mehr aus 20 Jahren Erfahrung basierendes Fachwissen beiderseits gebündelt wird.«

Die ICT-/FKT-Kombi-Testsysteme MTS-SIGMA von Digitaltest sind bereits seit längerem am Markt. Mit Hilfe der integrierten Boundary-Scan-Testfunktionen von JTAG lassen sich die Testmöglichkeiten nun noch weiter verbessern. »So reduzieren sich zum Beispiel die Zeiten für die Testentwicklung und den Testdurchlauf bei maximierter Testabdeckung, während gleichzeitig die Adapterkomplexität dank der geringeren Anzahl benötigter Testpunkte reduziert werden kann«, so Boctor. »Dies gilt besonders für komplexe digitale Baugruppen, wo der physikalische Zugang zu den elektrischen Schaltungsknoten stark eingeschränkt ist.« Die Boundary-Scan-Option bietet einen Zugang sowohl für die Testfunktionen, als auch für eine In-System-Programmierung mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware Controller JT 3727/DPC, der über vier TAPs verfügt und gemeinsam mit Digitaltest entwickelt wurde.

Die Testlösung bietet derzeit eine ISP-Unterstützung für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile sowie für viele Mikrocontroller-Familien mit embedded-Flash-Speicher, IEEE Std 1532 CPLD und ältere PLDs.

Weiterführende Links:

• Die Abstrahlleistung von Mobiltelefonen kann gefährlich für die Baugruppen sein: Warnung vor Handystrahlung in der Fertigung
• »Kostengünstige Boundary-Scan-Tools helfen Kleinunternehmen, die Testkosten zu senken«: Struktureller Test muss nicht teuer sein