Mixed-Signal-IC-Tester

Sowohl für die Fertigung als auch für Entwicklung und Service eignet sich das High-Speed-Mixed-Signal-Testsystem »CT350 Meteor« von Dr. Eschke Elektronik. Es prüft ASICs und Vollkunden-ICs, ist

Sowohl für die Fertigung als auch für Entwicklung und Service eignet sich das High-Speed-Mixed-Signal-Testsystem »CT350 Meteor« von Dr. Eschke Elektronik. Es prüft ASICs und Vollkunden-ICs, ist konfigurierbar und zeigt eine modulare Struktur.

Die direkte Kopplung der Prüflinge über ein Performance-Board ermöglicht eine maximale Testgeschwindigkeit von 300 MSample/s digital und 1 GSample/s analog. Ausgestattet ist das System mit Signalgeneratoren, DSO-Funktionen, Strom- und Spannungsquellen für den analogen Funktionstest bis 80 V sowie präzisen 24-Bit-Messkanälen und Stromversorgungsmodulen bis 11 A.

Die Kommunikation mit dem Steuer-PC erfolgt über eine USB-2.0-Schnittstelle und ist damit unabhängig von PC-internen Bussystemen.

Dr. Eschke Elektronik
Telefon: (030) 567016-69