EMV-Scanner

Der EMV-Scanner FLS 102 von Langer EMV-Technik ist ein modular aufgebautes IC-Test-System für die automatische Messung elektrischer und magnetischer Nahfelder über IC-Oberflächen, PINs und IC-Baugruppen.

Die mit dem Scanner verwendeten Nahfeld-Mikrosonden arbeiten bis zu einer Frequenz von 3 GHz und bieten eine Auflösung mit Spulendurchmessern bis 150 µm.

Das System besteht aus einem Vier-Achs-Mover mit Halterungen für die Mikrosonde und das Videoinspektionsmikroskop. Dank automatischer, frei programmierbarer Messalgorithmen kann die Mikrosonde 20 µm oberhalb der IC-Oberfläche bzw. der PINs fahren. Ihr maximaler Verfahrweg beträgt 250 x 150 x 50 mm. Manuelle Sondenbewegungen erfolgen mittels Grafik-Joystick.

Die Software »ChipScan« steuert das Gerätesystem und stellt alle Messdaten zwei- oder dreidimensional dar.