EMC-Scanner für kleine Testobjekte

Detectus (Vertrieb: DHS Tools) hat seinen High-Resolution-EMC-Scanner mit einer neuen IC-Option ausgestattet. Damit lassen sich elektromagnetische Emissionen auch von sehr kleinen Bauteilen, wie etwa ICs, genau untersuchen.

Der Scanner besteht aus einem Roboter und einer Software, die auch einen handelsüblichen Spektrumanalysator mit Messsonde steuert. Die IC-Option besteht zusätzlich aus einer Kamera mit einer Auflösung von 10 µm/Pixel sowie aus einer speziellen Befestigung für Nahfeld-Mikrosonden. Vor der Messung lässt sich der Weg des Scanners mit Hilfe der Kamera genau spezifizieren.

Nach der Messung dient die Kamera als »Mikroskop«, mit der der Anwender die Messergebnisse und die geografische Zuordnung der Störquelle auf dem IC untersuchen kann. Drei Nahfeld-Mikrosonden inkl. Vorverstärker stehen zur Auswahl: elektrisch, magnetisch (horizontal) und magnetisch (vertikal). Alle Detectus-EMC-Scanner eignen sich sowohl für den entwicklungsbegleitenden Einsatz sowie für Anwendungen im EMV-Labor und als QS-Tool in der Fertigung, da die dreidimensionalen Ausstrahlungsdiagramme, aufgenommen mit einer Auflösung von bis zu 0,025 mm, einfach mit gespeicherten Referenzen verglichen und analysiert werden können.