Dem Jitter auf der Spur

Ein neues Hardware-Software-Testsystem für die Analyse der Ursachen zeitlicher Schwankungen von Anstiegsflanken synchroner Digitalsignale (Jitter) hat Advantech zusammen mit dem Software-Spezialisten Wavecrest entwickelt.

Die speziell entwickelte Software JAT (Jitter Analyse Software Tool) läuft einem Advantech-Testsystem T2000, das mit einem mehrkanaligen 6,5-Gbit/s-"High Speed"-Schnittstellen-Testmodul ausgerüstet ist.

Damit ist die Prüfung von Sender- und Empfängerbausteinen für die serielle Datenübertragung ebenso möglich wie die Charakterisierung der Leistungsdaten komplexer Schnittstellen wie Fibre Channel, SONET, Gigabit Ethernet, PCI Express, Serial ATA und FB DIMM (Fully Buffered Dual In-line Memory Modules).

Das Messsystem ermöglicht bei der Bestimmung des Gesamt-Jitters die Unterscheidung von deterministischen und zufälligen (random) Jitter-Anteilen und für die qualitative Beurteilung der Qualität einer Übertragungsstrecke die Signaldarstellung im Augendiagramm. Dabei können auch so genannte "Dual Dirac"-Messungen durchgeführt werden, mit deren Hilfe sich die Darstellung im Augendiagramm auch numerisch exakt auswerten lässt.

Hierzu wird der patentierte "Tail Fit"-Algorithmus von Wavecrest eingesetzt. Darüber hinaus besteht die Möglichkeit, den Jitter bezogen auf ein externes, abgeleitetes oder gemeinsames Taktsignal zu bestimmen. Dadurch lassen sich auch Schnittstellen wie die "PCI Express Generation 2" oder die reduzierte 10-Gbit/s-Ethernet-Kupfer-Schnittstelle IEEE (XAUI) charakterisieren und testen.

Darüber hinaus kann das Testsystem den Jitter auf mehreren Kanälen gleichzeitig bestimmen, ohne dass zusätzliche Multiplexer erforderlich sind.