AXI- und AOI-Lösungen von Omron

Omron stellt auf der electronica ein völlig neues AXI-Konzept (Röntgeninspektion) vor: Das vollautomatische VT-X-System übermittelt Taktzeiten von nur 500 ms pro Projektion, indem es zwei unterschiedliche CT-Algorithmen verwendet.

Das Konzept nutzt Hochgeschwindigkeits-Tomosynthesen und 3D-Tomografien sowie seine BGA-Benetzungsfähigkeit zur Inspektion von Fußnähten und ermöglicht Bildauflösungen von 7, 10, 15, 20 und 25 µm/Pixel in Winkeln von 0, 15, 30 und 45°. Ebenfalls auf dem Omron-Stand zu sehen sind die AOI-Systeme (automatische optische Inspektion) VT-WIN2 und VT-RNS, die 3D-Pasten-Inspektions-Systeme, die 3D-Reparaturplatzsysteme sowie die echtzeitfähige Verfahren-Verbesserungs-Software Q-upNavi. Sie ermöglicht es, Fehlerquellen schnell und sicher zu erkennen, geeignete Gegenmaßnahmen darzustellen und so die Produktion zu erhöhen.