AOI-System für Solarzellen

Viscom stellt erstmals ein optisches Inspektionssystem (AOI) für die Charakterisierung von Solarzellen vor.

Das S2012PV ist für Anwendungen wie Wafereingangskontrolle, Zellencharakterisierung und Zellenendkontrolle konzipiert. Mit großer Prüftiefe prüft es unter anderem auf Geometrie, Risse, Farbe, Druckbild und Mikrorisse.

Das System ist mit der leistungsstarken »VisCam«-Sensorik ausgestattet und lässt sich modular an jedes Prüftor und für jede Charakterisierungsaufgabe anpassen. Zudem ist es einfach in die jeweilige Fertigungsumgebung zu integrieren.