Advantest Testsystem für DDR4- und LPDDR4-Speicher

Für den hochparallelen Test von DDR4- und LPDDR4-Speicher-ICs hat Advantest das Testsystem T5503HS entwickelt. Es erreicht eine Testgeschwindigkeit von bis zu 4,5 Gbps und ist somit schnell genug für den Test der maximalen Datenrate von 4,266 Gbps moderner DDR-SDRAM-Halbleiter.

Um die maximale Testgeschwindigkeit zu sichern, generiert das T5503HS von Advantest automatisch die passenden CRC-Codes (Cyclic Redundancy Check) und CA-Paritätscodes für die jeweiligen I/O-Datenraten und Adressen der zu prüfenden Bauteile.

Das T5503HS testet bis zu 512 DDR4-SDRAM-Bauteile parallel, ein noch höherer Durchsatz lässt sich mit der »Real-Time-Source-Synchronous«-Funktion des Testers erreichen.

In die System-Hardware ist eine Timing-Training-Funktion integriert, dadurch lässt sich laut Hersteller die Testzeit gegenüber softwarebasierten Systemen nochmals reduzieren.

Darüber hinaus minimieren weitere Funktionen wie die Einstellung einzelner Pegel, I/O Dead-Band-Canceling und Datenbus-Inversion (DBI) die Datenübertragungszeiten.