Pickering Interfaces Schnelle Schaltmatrizen, flexible Chassis

Matthias von Bassenheim, Pickering Interfaces: »Über den Halbleitertest hinaus finden sich vielfältige Anwendungen für diese neuen Systeme in anderen Industriesegmenten.«

Zu den Highlights auf dem Messestand von Pickering Interfaces zählen eine neue Serie modularer LXI-Reed-Relais-Matrizen und ein neues 4-Slot-USB/LXI-Chassis. Wir sprachen mit Matthias von Bassenheim, Geschäftsführer von Pickering Interfaces, über die Portfolio-Erweiterung.

Markt&Technik: Bitte beschreiben Sie kurz die wesentlichen Besonderheiten der neu vorgestellten Schaltmatrix-Serie.

Matthias von Bassenheim: Die High-Density-Modular-LXI-Ethernet-Reed-Relais-Matrix-Module der Serie 65-22x wurden ursprünglich für den Halbleitertest auf Wafer- und Bausteinebene entwickelt. Sie kombinieren Pickerings LXI-Chassis 65-200 mit neuen Einschub-Matrix-Modulen, die über einen 200-Pin-Anschlussstecker Zugang zu allen Signalpfaden haben. Die Einschubmodule nutzen Reed Relais von Pickering Electronics, die ein Maximum an Belastbarkeit und Zuverlässigkeit bei sehr schnellen Schaltzyklen bieten.

Welche Matrixgrößen kann der Anwender auswählen?

Die neue Serie umfasst vier neue Einschubmodule für Matrizen bis zu 1536 x 4 in Schritten von 128 (Modell 65-221), 768 x 8 in Schritten von 64 (Modell 65-223)¸ 384 x 16 in Schritten von 32 (Modell 65-225) und 192 x 32 in Schritten von 32 (Modell 65-227). Anwender können die Modulzahl applikationsspezifisch von einem bis maximal sechs frei wählen. Eine weitere besondere und für parametrische Tests höchst effiziente Systemeigenschaft ist, dass bis zu 1500 Relais gleichzeitig geschlossen werden können.

Wie funktioniert die integrierte Scan-List-Technologie mit Hardware-Trigger-Funktion?

Triggerbare Sequenzen können entweder durch Softwareroutinen oder über eine der 16 digitalen und Software-konfigurierbaren Signalleitungen abgerufen werden. Das Konzept bietet dabei auch eine Multi-Bus-Fähigkeit für den Paralleltest.

Gibt es Selbsttestmöglichkeiten für dieses System?

Ja, entweder mit Pickerings integriertem BIRST-Selbst-Test oder durch den Einsatz externer eBIRST-Test-Adapter. BIRST und eBIRST ermöglichen es im Fehlerfall, schnell und effizient mögliche Relaisdefekte zu lokalisieren. Über den Halbleitertest hinaus finden sich vielfältige Anwendungen für diese neuen Systeme in anderen Industriesegmenten, wie beispielsweise beim Funktionstest automotiver ECUs. 

Zur productronica stellen Sie darüber hinaus das neue 4-Slot-USB/LXI-Chassis 60-105 vor. Nun ist Ihr Chassis-Portfolio ja bereits sehr umfangreich, welche Gründe gab es, nun zusätzlich noch dieses Modell auf den Markt zu bringen?

Für viele Anwendungen reichen die zwei Slots unseres bereits vorhandenen 2-Slot-USB/LXI-Chassis einfach nicht aus. Daher sahen wir die Notwendigkeit für eine 4-Slot-Variante. Beide Varianten bieten eine kleine, leichtgewichtige Plattform mit idealem Formfaktor für mobile Anwendungen und platzkritische Laborumgebungen. Die Chassis sind für den Tischbetrieb oder die Rack-Montage vorgesehen und verfügen zur Ansteuerung über einen USB- und LXI-Ethernet-Port. Die Möglichkeit zur Fernsteuerung via Netzwerk erlaubt es, die Schaltfunktionen im Testsystem nahe am Prüfling bzw. an der gewünschten Schaltstelle zu platzieren. Das 4-Slot-Chassis erlaubt es, bis zu vier 3-HE-1-Slot-PXI-Module einzusetzen. Damit lassen sich Schaltsysteme realisieren, die bei Verwendung von Matrizen bis zu 2208 Kreuzungspunkte oder für die Sensorsimulation bis zu 72 programmierbare Widerstandskanäle zur Verfügung stellen. (nw) n

Pickering Interfaces auf der productronica 2017: Halle A1, Stand 452