Funktionstester von Microcontact Neue Starrnadel-Technologie mit Doppelhub-Verfahren

Der schweizerische Hersteller Microcontact hat eine neue Generation des Microtesters MCom auf den Markt gebracht, der nunmehr einen Funktionstest auf 200-µm-Strukturen mit einem Pitch >300 µm erlaubt. Dazu werden die Substrate zuvor von beiden Seiten optisch vermessen und die PRS-Offsets ermittelt.

Der Algorithmus der Software berechnet aus diesen Offsets die genaue Lage und erkennt dabei auch Schrumpfung, Dehnung sowie den Verzug vom Substrat. Anhand dieser Berechnung positioniert das XY-System das Substrat optimal in der Kontaktierung. Die obere Kontaktierung passt sich dem zu korrigierenden Winkel an, während die untere Kontaktierung zusätzlich den Außenlagenversatz von oben zu unten in X, Y und dem Winkel korrigiert. Beim weiteren Durchsteppen in X- und Y-Richtung wird pro Stepp die Kontaktierung erneut optimal ausgerichtet. 

Beim Funktionstest kommt eine neue, auf dem Doppelhub-Prinzip basierende Generation von Starrnadeladaptern zum Einsatz. Beim Doppelhub werden zuerst die beiden Adapter exakt auf dem Substrat positioniert (Zustellhub), im zweiten Schritt wird die Prüfkraft (Kontaktierhub) getätigt. Dabei erzeugt jede Starrnadel eine definierte Prüfkraft von 0,6 bis 1,5 N. Nach Herstellerangaben wurde bei dieser neu entwickelten Starrnadel-Technologie das Taumelspiel im Vergleich zur Vorgängergeneration nochmals merklich reduziert, so dass zum Beispiel mit 6 mm freistehenden Nadeln immer noch ein Pitch von 0,4 mm realisierbar ist. 

Testpunkte sind nun viel einfacher und somit schneller zu setzen, denn für einen 200-µm-Testpunkt findet man gegenüber den oft verwendeten 0, 8 bis 1,2 mm »Testflächen« sehr viel schneller einen Platz. Rein durch die Reduktion der Testpunktgröße von 800 auf 200 µm lässt sich die benötigte Testfläche um das 16-fache reduzieren. Zudem können einige Signale direkt von den Leiterbahnen abgegriffen werden, so dass diese Testpunkte ganz entfallen können. 

Die Starrnadeladapter von Microcontact sind so konzipiert, dass diese auch bei 150°C noch perfekt kontaktieren. Wegen der Adapterausdehnung wird beim Heißtest eine substratabhängige, minimal größere Testfläche definiert. Diese Adaptertechnologie hat sich im jahrelangen 24-Stunden Betrieb im Automotive-Bereich bewährt und ist ausgereift. 

Die Basis des Microtesters besteht aus drei Grundeinheiten: der PRS-Station, einem XY-Handling und der Kontaktiereinheit. Diese Basis kann in eine Inline- oder Standalone-Maschine integriert werden, so dass die Verarbeitung vom Band, aus Stapeln, Trays oder Magazinen ermöglicht wird. Ähnlich flexibel werden auch kundenspezifische Messtechniken und Adapter (HF-Adapter oder bestehende konventionelle Adapter) in die Maschine integriert.