Messtechnik »IJTAG stellt Embedded Testing auf den Kopf«

Tim Caffee, Asset Intertech: »Die jahrelange Debatte darüber, ob der Fehler nun im Chip oder auf der Leiterplatte zu suchen ist, könnte bald beendet sein, denn Embedded-IJTAG-Instrumentierung ist in der Lage, Fehler und Schwachstellen im Chip- und Board-Bereich exakt zu lokalisieren.«
Tim Caffee, Asset Intertech: »Die jahrelange Debatte darüber, ob der Fehler nun im Chip oder auf der Leiterplatte zu suchen ist, könnte bald beendet sein. Denn Embedded-IJTAG-Instrumentierung ist in der Lage, Fehler und Schwachstellen im Chip- und Board-Bereich exakt zu lokalisieren.«

War das Testing bislang ein lästiger, aber leider notwendiger Schritt, der noch schnell kurz vor Lieferung eines Systems erledigt werden musste, ist es jetzt in der Rangfolge ganz nach vorne gerückt. Maßgeblichen Anteil daran haben Embedded-Test-Methoden wie der IJTAG-Standard.

Von Tim Caffee, Asset Intertech

Chips sind zu komplex und ihre Entwicklung ist zu teuer, um ihre Charakterisierung, Validierung und Tests nicht schon in der Design-Phase zu berücksichtigen. Seit Jahren binden Chip-Entwickler Instrumentierungs-IP – Embedded-Instrumentierung – in ihre Chip-Designs ein, um ihre Komponenten später kostengünstig testen zu können. Ohne diese Embedded-Instrumentierung wäre es unverhältnismäßig teuer beziehungsweise sogar unmöglich, komplexe Bausteine wie etwa Systems-on-Chip gründlich zu charakterisieren und zu validieren.

Mittlerweile hat aber auch die übrige Industrie den enormen Nutzen erkannt, den Embedded-Instrumentierung sogar nach der Chip-Design-Phase bietet. Es stellt sich nun die Frage, wie auch allen anderen Branchen-Playern dieser Nutzen zugänglich gemacht werden kann.

Ordnung in die etwas chaotische Entwicklung von Embedded-Instrumentierung dürften klare Standards wie etwa der IEEE-1687-Internal-JTAG-Standard, kurz IJTAG, bringen.

Proprietäre Technologien haben ausgedient

Vor der Einführung des JTAG-Standards verwendete jeder Chip-Hersteller proprietäre Embedded-Instrumentierung, die auf ganz spezielle Art und Weise angesteuert wurde. Das schränkte die Anwendungsmöglichkeiten für Embedded-Test-IP ein, denn dadurch hatte die Instrumentierung in jedem Chip auf einer Leiterplatte proprietäre Zugriffsmechanismen, die sich von den anderen Instrumenten auf der Leiterplatte unterschied. Zudem machte das die Portierung auf Systeme anderer Anbieter unmöglich und verhinderte die Wiederverwendung von Embedded-Test-IP für das Chip- bzw. Leiterplatten-Design der jeweils nächsten Generation.

Das alles hat sich mit dem IJTAG-Standard geändert. IJTAG definiert ein flexibles und dynamisch skalierbares Netz für Embedded-Instrumentierung bzw. Embedded-Test-IP. Doch das ist noch nicht alles. IJTAG-konformes Embedded-Test-IP lässt sich natürlich von einem Chip-Design auf das nächste übertragen, aber IJTAG gewährleistet auch die Portabilität der zum IP gehörigen Testprozeduren. Wenn das IP also in ein neues Design integriert wird, müssen die Testprozeduren nicht wieder vollkommen neu entwickelt werden.

Die Testprozeduren oder Vektoren sind portabel und wandern einfach mit dem Embedded-Test-IP mit. Der IJTAG-Standard macht damit ganze IJTAG-Netze oder Segmente eines IJTAG-Netzes portabel. Ein Segment eines IJTAG-Netzes mit vielen Embedded-Instrumenten und zugehörigen Testvektoren kann als Gesamtpaket von einer Chip- oder SoC-Design-Generation in die nächste übernommen werden.