PXI-basierter Baugruppentest ICT, FKT oder beides kombiniert?

Peter Westphal, Aeroflex: »Ein kombinierter ICT/FKT spart Platz und Adapterkosten, vor allem aber reduziert sich der Handling-Aufwand des Prüflings.«
Peter Westphal, Aeroflex: »Ein kombinierter ICT/FKT spart Platz und Adapterkosten, vor allem aber reduziert sich der Handling-Aufwand des Prüflings.«

Ende 2012 hat Aeroflex das auf einer offenen Hard-/Software-Architektur basierende Testsystem 5860 für den Incircuit- und Funktionstest vorgestellt. Markt&Technik sprach mit Peter Westphal, Key Account Manager ATE bei Aeroflex, über die Vor- und Nachteile einzelner und kombinierter Teststrategien.

Markt&Technik: Herr Westphal, in welchen Anwendungen ist es sinnvoll, Incircuit- und Funktionstest getrennt voneinander durchzuführen und wann bietet sich ein kombinierter ICT/FKT-Test an?

Peter Westphal: Der Incircuit-Test ist in der Regel schnell und zeitlich unabhängig von der Funktion des Prüflings. Der Funktionstest und auch das Flashen des Prüflings hingegen können deutlich länger dauern, als der ICT. Dies hängt von der Response-Zeit des Prüflings ab. Eine Trennung der beiden Teststrategien erfolgt meist bei hohem Produktionsdurchsatz. Dabei wartet der ICT nicht auf den Funktionstest und das Testequipment wird optimal ausgelastet. Oft sehen wir einen Incircuit-Tester und nachgeschaltet zwei bis vier Funktionstester, die parallel den Durchsatz eines ICT aufnehmen. Aber eine generelle Regel für die Optimierung der Teststrategie - ICT mit oder ohne FKT – gibt es nicht. Jeder Fall ist einzeln und differenziert zu betrachten.

Gibt es dennoch Anwendungen, in denen Sie einen kombinierten ICT/FKT-Test für sinnvoll erachten?

Bei kleinen Fertigungslosen ziehen die Hersteller oft den kombinierten ICT/FKT vor, vor allem dann, wenn die Zeit für den Funktionstest nur kurz ist. Der Vorteil ist, dass bei der Zusammenlegung der beiden Teststrategien die vorhandenen Ressourcen des Testsystems - wie etwa die Mess- und Relaistechnik - sowohl für den ICT als auch für den FKT benutzt werden können. Bei der Adaptierung kommt meist ein Zwei-Stufen-Adaptersystem zum Einsatz, so dass beim Funktionstest nur noch die wirklich benötigten Testnadeln kontaktieren und die Belastung für den Prüfling entsprechend gering ist.

Welche Vor- und Nachteile sehen Sie für die Anwender?

Ein kombinierter ICT/FKT spart Platz und Adapterkosten, vor allem aber reduziert sich der Handling-Aufwand des Prüflings. Dadurch erreicht man eine nahezu optimale Fehlerabdeckung an einem Arbeitsplatz. Aber natürlich wird dadurch auch der Prüfdurchsatz begrenzt.

Ist Ihrer Ansicht nach ein Strategiewechsel in der Industrie in Sicht?

Die Komprimierung beziehungsweise Miniaturisierung der Elektronik-Boards macht den Zugriff auf alle für den ICT notwendigen Schaltungsknoten immer schwieriger. Hier wird ein kombinierter Test immer mehr dem reinen ICT vorgezogen, so dass auch ein so genannter Cluster-Test, also ein begrenzter Funktionstest innerhalb des ICT, die gewünschte Fehlerabdeckung bringt.

Welchen Ansatz verfolgt Aeroflex?

Wir setzen mit unserer neuen Testsystem-Generation der 58xx-Serie auf eine offene Hardware- und Software-Architektur basierend auf dem PXI-Systembus und einer .NET-konformen Software. Die Systeme können als reiner ICT eingesetzt werden, als FKT oder als Kombination aus allem, einschließlich Flashen und Boundary Scan. Das bietet dem Kunden eine enorme Flexibilität – unabhängig davon, für welche Teststrategie er sich jetzt oder später entscheidet. Das neue Aeroflex-Testsystem 5860 mit Virginia-Panel-Adapter-Interface ermöglicht den kombinierten Test - ICT und hochfrequenten FKT - mit den Aeroflex PXI-Karten der Serie 3000. Dadurch reduziert sich der Testaufwand beim End-of-Line-Test für Wireless-Produkte deutlich, oder er kann sogar ganz entfallen.

Das Interview führte Nicole Wörner.