Kleinste Defekte sichtbar machen GP Solar: Inspektionssysteme für die PV

GP TOPO-D .Scan Screenshot: 3D Bild eines Wafers mit einer Sägeriefe von 5 bis 15 µm.
GP TOPO-D .Scan Screenshot: 3D Bild eines Wafers mit einer Sägeriefe von 5 bis 15 µm.

GP Solar Inspect Chrome heißt die neue Inspektionssystem-Serie von GP Solar für die Photovoltaikindustrie. Das Besondere daran ist das von GP Solar entwickelte neue Kamera-Objektiv für die optimierte Fehlererkennung mittels Spektralanalyse.

Die speziellen Linsen verhindern optische Fehler und garantieren durch extrem scharfe Bilder bei unterschiedlichen Wellenlängen sehr genaue Ergebnisse der inspizierten Wafer, Zellen und Module.

Die neue Produktlinie umfasst die erste GP Solar Inspect Software mit chinesischer Benutzeroberfläche. Die automatische Erkennung des Zelldesigns durch ein "Teach-in" Verfahren ermöglicht ein sehr schnelles Einstellen neuer Rezepte. Zusätzlich gewährleistet die neue Software eine individuelle Feinabstimmung der Druckeinrichtungen.

Dank Defekt-Überlagerung können bis zu 600 Proben übereinander gelegt werden. Dadurch werden selbst kleinste Defekte, die häufig auftreten, sichtbar. Eine weitere Softwarebesonderheit ist eine Bildübersicht der Beschichtungsqualität, welches Variationen im Prozess leicht erkennen lässt.

GP TOPO-D .Scan | CHROME

Der GP TOPO-D .Scan ist eine Weltneuheit: ein Inline-Inspektionsgerät für die vollflächige 3D-Messung der Topographie von Wafern und Solarzellen on-the-fly innerhalb von einer Sekunde. Die patentierte Technologie (Patent angemeldet) ermöglicht ein dreidimensionales Scannen von Wafern in z-Richtung mit höchster Genauigkeit durch einfache Bewegung der Wafer durch das System.

Der GP TOPO-D .Scan führt eine vollflächige Messung durch und findet dreidimensionale Defekte unabhängig von Ausrichtung und Position. Die Höhenauflösung der Messung beträgt 4 µm bei einer lateralen Auflösung von 160 µm auf einem Standardbandsystem.

Das Inspektionssystem wurde vordergründig für das Erkennen von Sägeriefen auf Wafern entwickelt, eignet sich jedoch auch zum Erkennen von 3D-Druckfehlern auf der Solarzellenrückseite. Auf diese Weise lassen sich u.a. Höhe und Breite des Aluminiumüberlapps zum Busbardruck messen.