Prüftechnik Schneider & Koch Doppelseitige High-Speed-AOI

Die Reparaturdaten beider Prüflingsseiten werden in einem Datensatz zusammengefasst, gespeichert und einheitlich am Reparaturplatz dargestellt.
Die Reparaturdaten beider Prüflingsseiten werden in einem Datensatz zusammengefasst, gespeichert und einheitlich am Reparaturplatz dargestellt.

Das optische Inspektionssystem LaserVision TWIN von Prüftechnik Schneider & Koch erlaubt die parallele Prüfung beider Baugruppenseiten und sorgt so für eine hohe Prüfgeschwindigkeit.

Damit sich bei parallelen Tests die beiden Aufnahmesysteme im Aufnahme- und Belichtungsmoment nicht gegenseitig stören, haben die Experten eine intelligente Steuerung entwickelt, die diesen Prozess und das Gegenlicht im Aufnahmemoment so steuert, dass keine Zeitverzögerungen entstehen.

Zwei integrierte Bildverarbeitungsrechner sorgen für eine echte Parallelverarbeitung der gewonnenen Prüfdaten. Die Reparaturdaten beider Prüflingsseiten werden in einem Datensatz zusammengefasst, gespeichert und einheitlich am Reparaturplatz dargestellt.

In der Praxis lag die gesamte Prüfzeit für eine beidseitig bestückte SMD/THT-Baugruppe mit insgesamt 835 Bauteilen und 5526 Teststeps (Barcode, Placement, Solder, Short, Polarity) bei 18 s, wobei die Oberseite mit 18 s die taktzeitgebende Seite ist, die Unterseite wird zeitgleich in nur 11 s geprüft.

Wie in allen LaserVision-Systemen können Barcodes im TWIN auf beiden Baugruppenseiten gelesen werden. Optional lässt sich das System mit zusätzlichen seitlichen Kameras von oben und unten ausstatten, um mittels Schrägblick weitere Bildinformationen zu erhalten. Ebenfalls optional ist ein integriertes Rückführband, beispielsweise für die Rückführung von Lötrahmen.

Prüftechnik Schneider & Koch auf der electronica 2014: Halle A1, Stand 621