Anritsu Bitfehlerraten-Tests für 100G-EPON

Anritsu bringt Bitfehlerraten-Testlösung für 100G-Ethernet-PON (Passive Optische Netzwerke) auf den Markt
Anritsu bringt Bitfehlerraten-Testlösung für 100G-Ethernet-PON (Passive Optische Netzwerke) auf den Markt

Basierend auf dem Signalqualitätsanalysator MP1800A hat Anritsu eine 100G-EPON-Testlösung entwickelt. Zusammen mit der 100G-EPON-Anwendungssoftware MX180014A unterstützt er Bitfehlerraten-(BER)-Messungen von OLT (Optical Line Terminal) und ONU (Optical Network Unit) für den neuen 100G-EPON-Standard.

Zum Hintergrund: Die starke Zunahme von Breitbanddiensten, die 4K/8K-Videoübertragung unterstützen, ist nur einer der Faktoren für die Expansion von optischen Zugangsnetzen, die Passive Optische Netzwerke (PON) nutzen. Das rasche Wachstum im Bereich des Datenverkehrs treibt die Umstellung dieser optischen Zugangsnetze in Hochgeschwindigkeitsnetze mit 10-Gbit/s-PON-Technologie voran. 

Gleichzeitig muss bereits die nächste Generation, der 100G-EPON-Standard (IEEE802.3ca), der Bitraten von 25 Gbit/s pro Signal bietet, bewertet werden. 

Im Ergebnis erfordert die Entwicklung von OLT- und ONU-Einheiten für PON-Systeme sowohl Breitband-Übertragungsleistungen mit 25 Gbit/s als auch präzisere Zeit- und Toleranzmessungen, aufgrund der kürzeren Zeit pro Bit.

Hier setzt die neue Testlösung von Anritsu an. 

Der MP1800A…

…ist ein modular aufgebauter Bitfehlerraten-Tester (BERT) zum Messen einer breiten Palette von Schnittstellen bis hin zu Mehrkanal-64-Gbit/s. Die Mehrkanal-Synchronisation und die Funktionen zur Skew-Anpassung des MP1800A sind optimiert für OLT-Tests, die ihrerseits eine hochpräzise Zeiteinstellung erfordern. 

Zudem werden BER-Messungen mit hoher Wiederholgenauigkeit durch ein präzises Ausgangssignal sowie durch eine hohe Eingangsempfindlichkeit erreicht. 

Die MX180014A-Software…

…steuert den MP1800A, um ein Zweikanal-Prüfsignal mit Burstmustern und entsprechend eingestellter Skew zu erzeugen. 

Bei der OLT-Evaluierung, der Eingangsempfindlichkeit und  den Timing-Tests werden die Einstellungen der Püfmusterlänge und der zeitlichen Lage durch die grafische Benutzeroberfläche (GUI) erleichtert.