IEEE Fotowettbewerb Zur Schönheit defekter Schaltkreise

Statt eine wabenförmige Struktur, wie erhofft, bildete das Tungstenit sich in Form eines Ninja-Wurfsterns, eines shuriken aus. Entdeckt hat ihn Xing Wu von der Southeast University in China.

Die IEEE schreibt jährlich einen Fotowettbewerb aus, der die schönsten Fotos fehlerhafter Schaltkreise und Mikroelektronik prämiert. Kaputt kann so schön sein.

Auch in diesem Jahr gab es zum Internationalen Symposium über die physikalische und Fehler-Analyse Integrierter Schaltkreise des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) einen Fotowettbewerb. Die interessantesten Wettbewerbsbeiträge sehen Sie hier.

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Die Kunst des Scheiterns

Die IEEE schreibt jährlich einen Fotowettbewerb zur Fehleranalyse Integrierter Schaltkreise aus. Kaputt kann so schön sein.