Rausch-Analyse-Tool für komplexe nm-Analog/HF-Schaltkreise

Mit Noise-Analysis-Option hat Berkeley nach eigenen Angaben das industrieweit erste übergreifende Rausch-Analyse-Tool für komplexe Analog- und HF-Schaltkreise entwickelt.

Noise-Analysis-Option bewältigt laut Berkeley jeglichen Typ komplexer Analog- und RF-Schaltkreise inklusive aller Analog/Digital-Wandler (ADC), PLLs, DC/DC-Wandler, Frequenz-Generatoren und Spannungs-kontrollierter Oszillatoren (VCOs). Außerdem ist das Silizium-erprobte Analyse-Tool voll kompatibel zu existierenden Flows und liefert exakte trueSPICE-Ergebnisse.

Mit der Einführung von Noise-Analysis-Option unterstützt Berkeley die Analyse auf der Transistor-Ebene inklusive dem Einfluss des so genanntem »white and flicker«-Rauschens. Das Noise-Analysis-Option-Tool ist in Kürze mit folgenden Funktionen erhältlich:

- Analyse des Transistor-Rauschens um das 5- bis 10-fache schneller und mit 5- bis 10-fach höherer Kapazität als vergleichbare Tools
- Periodische Steady-State-Konvergenz (PSS) mit einer Kapazität von bis zu 50.000 Elementen
- Periodische Rausch-Analyse ohne Genauigkeits- oder Leistungs-Verluste
- Analyse des Oszillator-Phasenrauschens mit hoher Genauigkeit bei autonomen Schaltkreisen; unterstützt das Knoten- und Baustein-Rauschen sowie Impuls-Abhängigkeits-Funktions-Informationen (ISF) für jeden einzelnen Knoten

Noise-Analysis-Option kann Spectre-(Cadence)- und HSPICE-(Synopsys)-Netzlisten und -Modelle auslesen. Darüber hinaus ist es vollständig in die Analog-Design-Umgebung Virtuoso von Cadence integriert und liefert standardisierte Ausgabeformate.