Silicon-Debug-Lösung für V93000-Plattform

Verigy stellt die Inovys Silicon-Debug-Lösung vor, mit der eine effiziente Fehlerdiagnose bei neuen SoC-Bausteinen möglich ist. Sie vereint das Softwarepaket FaultInsyte von Inovys mit dem skalierbaren und flexiblen SoC-Testsystem V93000 von Verigy.

Das Ergebnis ist eine integrierte Lösung, die die erforderliche Zeit zur Fehlersuche und Diagnose verkürzt, indem sie elektrische Fehler auf physikalische Defekte komplexer SoC-Bausteine abbildet.

»Die Inovys Silicon-Debug-Lösung, zusammen mit den integrierten Messfähigkeiten des V93000, ist ein einzigartiges Tool. Hersteller können nun bereits während des Tests von komplexen SoC-Bausteinen bisher nur schwer zugängliche Fehler finden«, so Hans-Jürgen Wagner, Vice President und General Manager von Verigys Semiconductor Test Solutions.

Das SoC-Testsystem V93000 ermöglicht mit seinem großen Speicher für Messdaten, seiner Mess-Wiederholbarkeit und seiner Per-Pin-Architektur eine genaue Erfassung von vielen Fehlerdaten. Die Inovys FaultInsyte-Technologie bietet Anwendern Visualisierungs- und Diagnosetools mit Einblicken in das Innenleben von Halbleiterbausteinen. Die Silicon-Debug-Lösung kann als Erweiterung für bereits vorhandene V93000-Pin-Scale-Systeme genutzt werden.

Verigy arbeitet derzeit mit Erstanwendern zusammen. Die Lösung wird ab Anfang November 2008 verfügbar sein.