NanoFocus präsentiert ein Qualitätsprüfsystem für Leiterplatten

Für die Qualitätsprüfung von Leiterplatten hat NanoFocus in Zusammenarbeit mit dem taiwanesischen Unternehmen Kaitronic das System »µscan Pro« entwickelt.

Es beruht auf dem optischen 3D-Profilometer »µscan«. Das System bietet mit bis zu 600 mm langen motorischen Achsen genügend Verfahrweg für die Inspektion von PCBs ohne vorherige Vereinzelung. Typische Messaufgaben sind die geometrische Erfassung von gefüllten Microvias sowie von Vertiefungen zur Durchkontaktierung der Platine und der Leiterbahn. Die dafür verwendeten chromatischen Sensoren lösen Strukturen von lateral bis zu 2 µm und vertikal bis zu 10 nm auf.