Boundary Scan weiter im Aufwind

Die vor allem beim Baugruppen- und funktionalen Verbindungstest auf hochdicht bestückten und mechanisch sehr schwer zugänglichen Boards eingesetzte Prüfmethode "Boundary Scan" befindet sich weiter im Aufwind. Dies zeigten u.a. die bei Göpel electronic für Fach-Ingenieure jetzt durchgeführten "Boundary Scan days".

Das auch unter dem Namen "JTAG - IEEE-1149.x" bekannte Prüfverfahren bedient sich spezieller Schieberegister-Ketten innerhalb der ICs an jedem Anschluss-Pin, um 1-0-Prüfmuster durch diese Register-Ketten "durchzutakten" und diese Muster an anderen (verbundenen) IC-Anschlüssen zu erkennen und damit die Funktion von Verbindungsleitungen zu verifizieren.

Mittlerweile gibt es auch neben dem .1-Standard für den digitalen Verbindungstest auch den 1149.4-Standard für Mixed-Signal- und Analogtest sowie den 1149.6-Standard für differentielle Verbindungen und AC- (Kondensator-) gekoppelte Netze. Auch ein Standard für die In-System-Programmierung von Speichern existiert.

Die Boundary-Scan-Standards erfreuen sich steigender Anwendung, da ja auch moderne Baugruppen immer dichter gepackt sind und nicht mehr mit Prüfnadeln kontaktiert werden kann (z.B. bei BGA-Gehäusen). Diesen Trend untermauerten nicht zuletzt die "Boundary Scan days" des Anbieters Göpel electronic GmbH, die im thüringischen Jena stattfanden und zu denen sich fast 120 Vertreter - mehr als erwartet - aus der Industrie eingefunden hatten.

In Vorträgen und Workshops kamen dabei alle aktuellen Gesichtspunkte sowie Möglichkeiten und Grenzen des modernen Praxiseinsatzes von Boundary Scan zur Sprache. Nicht zuletzt weckte vor allem die Vorstellung des "VarioTAP"- Konzeptes als erste echte Verschmelzung von JTAG-Emulation und Boundary Scan großes Interesse und generierte sehr viel Feedback von den Fachleuten.