Advantests T5822-System Schnelle und parallele Speichertests auf Wafer-Ebene

DRAM-, NAND- und andere nicht-flüchtige Speicher-Bauteile lassen sich mit dem neuen T5822-System von Advantest kostengünstig testen.

Das neue System erweitert die Advantest Testerserie für Memory Bauteile, die in der mobilen Elektronik verwendet werden. Da mobile Anwendungen derzeit boomen, benötigen die Halbleiter-Hersteller kostengünstige Lösungen zur Prüfung großer Stückzahlen verschiedener preissensitiver Memory-ICs. Mit dem T5822 lassen sich bis zu 1536 Bauteile parallel mit Datenraten von bis zu 1,2 Gbit/s prüfen.

Der neue Tester bietet Ressourcen für hohe Spannungen, wie einen Pegel-Treiber und DC-Testmöglichkeiten, in Kombination mit einem wirtschaftlichen und kompakten Testhead. Er zeichnet sich außerdem durch eine leistungsstarke MRA-Fähigkeit (Memory Repair Analyse) aus, die dazu beiträgt einen maximalen Yield zu erreichen.

Durch das Advantest FutureSuite Betriebssystem ist das System mit Testprogrammen für unterschiedliche Speicher-Bauteile kompatibel. Mit Ausgangsspannungen von -10 V bis 13 V bietet es eine hohe Flexibilität und wirtschaftliche Performance. Es eignet sich für Bauteile mit wenigen bis hin zu hohen Pin-Zahlen.

Der T5822 hat dieselbe modulare Architektur wie das Vorgängermodell. Dies erlaubt einen nahtlosen Übergang von anderen Testern der T5800 Serie.