Halbleitertest PXI-Revolution in der Testerwelt

Vanessa Blumenstein, Regional Product Engineer Automated Test und Rahman Jamal, Global Technology and Marketing Director bei National Instruments an einem NI-STS-Halbleiter-Testsystem, das auf dem Systembus-Standard PXI basiert.
Vanessa Blumenstein, Regional Product Engineer Automated Test und Rahman Jamal, Global Technology and Marketing Director bei National Instruments an einem NI-STS-Halbleiter-Testsystem, das auf dem Systembus-Standard PXI basiert.

Klassische Halbleiter-Testsysteme setzten jeweils auf die proprietären und systemtechnisch geschlossenen Bussysteme der jeweiligen Hersteller. Mit PXI ändert sich das jetzt: Testen wird kostengünstiger und flexibler - dank der vielen PXI-Module im Markt.

Zwar wurde beispielsweise vor rund zehn Jahren unter wesentlicher Förderung durch den Testsystem-Hersteller Advantest das "Semiconductor Test Consortium Inc." (STC) gegründet und eine Testsystem-Architektur unter dem Namen "Openstar" ins Leben gerufen; sie hatte zum Ziel, eine offenere Konzeption durch Implementierung von standardisierten PCI-Modulen zu schaffen, doch wurde daraus langfristig kein Erfolg: Openstar schaffte keinen Durchbruch im Markt.

Einen nun erfolgversprechenden Ansatz zu einer offenen Testsystem-Architektur packt National Instruments an: Auf dem weltweit verbreiteten Systembus-Standard PXI basierend (und damit über 1200 weltweit verfügbare Mess- und Testtechnik-Module erschließend) stellte das Unternehmen die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS) vor (Bild). Erhebliche Kostensenkungen im Vergleich mit traditionellen geschlossenen Architekturen sind damit nachweislich erzielbar. Auch können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge eingesetzt werden.

Verfügbar ist das System in 3 unterschiedlichen Größen und vorkonfiguriert - auch das Beweis für die Modularität und Flexibilität, um den Teseter auf die jeweiligen Anforderungen hin zuzuschneidern: Die Module sind natürlich beliebig austauschbar.

Durch die Testmanagementsoftware TestStand und die Systemdesignsoftware LabVIEW sind STS mit umfangreichen Funktionen für Halbleiterproduktionsumgebungen ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung und die Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen. Diese Testsysteme lassen sich auch direkt in eine Prüfstraße der Halbleiterproduktion integrieren.