NI-Week-Kongress Big Analog Data als Herausforderung

Jeff Kodosky, der LabVIEW-Erfinder, und Ray Almgren, VP Marketing bei National Instruments, betonen die Bedeutung optimaler Software-Funktionalität beim System Design jeglicher Art.
Jeff Kodosky, der LabVIEW-Erfinder, und Ray Almgren, VP Marketing bei National Instruments, betonen die Bedeutung optimaler Software-Funktionalität beim System Design jeglicher Art.

Big Analog Data und Hochleistungs-Analog/Mixed-Signal-Mess- und Prüfverfahren sowie das Nutzen neuester HF-Wireless-Technologien zählen zu den wesentlichen Herausforderungen der heutigen Zeit", so Dr. James Truchard, der Mitbegründer von National Instruments zu Beginn des diesjährigen NI-Week-Kongresses, den sein Unternehmen traditionell am Hauptquartier in Austin/Texas veranstaltet.

Auch das Industrielle Internet of Things (IoT) und das "IoT für Consumer-Zwecke" stellte Truchard ebenso als besondere technische Herausforderungen dar wie die "Industrie 4.0 und die "Smart"-Technologien in allen Bereichen der Elektronik und damit in allen Bereichen des täglichen Lebens. Die große Frage sei aber, wie man all diese Entwicklungen optimal nutzen und in Synergie-Effekten optimal vereinigen könne. 

Auch Timing- und Synchronisierungs-Aspekte im niedrigen Mikrosekunden-Bereich und darunter zählen in diesem Zusammenhang zu Anforderungen, die gelöst werden müssen.
Ein Blick in die Zukunft eröffnete zwei Aspekte: Verteilte Sensor/Aktor-Systeme aller Art, die im Nanosekunden-Takt synchronisiert werden müssen und High-speed Multirate Rechnerarchitekturen, die mit "Big Data" arbeiten. Hard- und Software müssen hierbei optimal zusammenspielen.

Mike Santori, VP Product Marketing, hob einige Applikationen hervor, die diesen Herausforderungen begegnen können: High-speed-FPGAs und die Möglichkeiten durch grafische Programmiertechniken seien dabei Grund-Elemente. Er erwähnte auch das neue LabVIÈW 2014 als Programmierumgebung. Automatisch-intelligent hergestellte Verbindungen zwischen den Funktionsablöcken zählen dabei ebenso zu den Arbeitserleichterungen ebenso wie mehrere neue Toolkits und weitere arbeitserleichternde und zeitsparende Verbesserungen.

HF-Wireless-Messtechnik: Speed deutlich gesteigert


Der Systembus-Standard PXI mit momentan über 1500 verschiedenen Einschub-Modulen auf dem Markt erweist sich derzeit als sehr gute Hardware-Basis in Verbindung mit der Software-Umgebung des neuen LabVIEW. In diesem Zusammenhang stellen nach Meinung von Fachleuten bei National Instruments die „software-designten“ Instrumente, deren erster Vertreter der vor zwei Jahren vorgestellte PXI-Vektor-Signal-Transceiver VST bis 6 GHz oberer Frequenzgrenze war, ebenfalls wesentliche Elemente der Messtechnik der Zukunft dar.

Weitere Neuerung: Jetzt wurde der Frequenzbereich des Vector Signal Analyzers VSA auf über 26 GHz erhöht, die Analysebandbreite kann nun 765 MHz betragen – ein Rekordwert in diesem Sektor der Hochfrequenz-Messtechnik. Zwei Mio. FFTs pro Sekunde sind damit realisierbar. Die Messgeschwindigkeit sei mit dem neuen VSA rund 15 mal höher als mit herkömmlichen Standard-HF-Analysatoren, wie Versuche ergeben hätten.


Mit PXI: Neues IC-Testsystem für die Fertigung

In diesem Zusammenhang wurde auch ein neues IC-Testsystem (ATE, Automated Test System) auf PXI-Systembus-Basis vorgestellt. Ein sehr hoher Test-Durchsatz aufgrund der großen Messgeschwindigkeiten der Tester-PXI-Hardware charakterisiert dieses Prüfsystem, das auch schnelle Parallel-Hochfrequenz-Tests mit dem Vektorsignal-Transceiver VST zu günstigen Kosten im Vergleich zu herkömmlichen Testsystemen realisieren kann. Ein solches System kostet laut NI rund ein Zehntel im Vergleich zu einem ähnlichen traditionellen Testsystem; die Testkosten pro Prüfling lassen sich so massiv reduzieren.

"Big Analog Data": die Herausforderung an Rechenkapazität

Im Bereich des "Condition Monitoring", also dem permanenten Überwachen von Maschinenzuständen, um sich ankündigende Fehler zu erkennen, liegt eine weitere Herausforderung für moderne Mess- und Analystetechnik, wie deutlich wurde. Bei allen diesen Monitoring-Verfahren fallen große Mengen von Analogdaten der verschiedenen Sensoren in Hochgeschwindigkeit an, die in Echtzeit ausgewertet werden müssen, um beispielsweise rechtzeitig Alarme zu generieren: Alles im Sinne von vorbeugender Wartung, dem "Predictive Maintenance"-Konzept.