»Doppelter« In-Circuit-Tester

Gleich am ersten Messetag stellte Teradyne den Besuchern sowie der Presse das neue Mitglied der In-Circuit-Testerfamilie »TestStation« vor. »TestStation Duo« heißt der nach Herstellerangaben erste »doppelte« In-Circuit-Tester in einem Systemgehäuse.

Der »Duo« vereint zwei voneinander vollständig unabhängige Testmodule in einem Testsystem – damit lassen sich zwei Baugruppen (auch unterschiedliche) gleichzeitig auf einem Testsystem prüfen. Effektiv verdoppelt sich somit der Testdurchsatz, ohne dass sich die Investitionen in das Testequipment ebenfalls verdoppeln oder sich die Standfläche vergrößert. Sämtliche Prüffunktionen der »TestStation«-Produktfamilie sind auch in der »Duo«-Version enthalten. Dazu gehören unter anderem die Schutzfunktion »SafeTest«, die »UltraPinII«-Treiber/Sensoren sowie die vektorlose Testtechnik »FrameScan FX«.

Die »TestStation Duo« umfasst die Software-Debug-Umgebung »Debug Pro«, deren intuitive Bedienoberfläche dem Anwender umfangreiche Prüffunktionen sowie einfach gehaltene Befehlsmenüs und verständliche Programmdarstellungen für ein schnelleres Debugging und eine exakte Qualifizierung von In-Circuit-Testprogrammen an die Hand gibt. Die Testqualitäts-Analysesoftware überprüft das Testprogramm, erstellt Reports, die die Prüfabdeckung insgesamt anzeigen und kennzeichnet unzuverlässige Prüfschritte, die ein weiteres Debugging benötigen. Mittels der Bedienoberfläche »Production Pro« können Anwender die Testergebnisse für jedes der beiden Testmodule einzeln betrachten und weiterverarbeiten.

Den »Duo« gibt es entweder im Standard-»TestStation«-Gehäuse oder als einzelne Komponenten für den Einsatz in Baugruppenträgern. Die Einzelkomponenten lassen sich auch in automatische Test-Handler integrieren.

Christopher McNally, ICT Marketing Director bei der Assembly Test Division von Teradyne verdeutlicht: »Die ‚TestStation Duo’ bietet durch dedizierte Ressourcen in jedem der beiden Testmodule einen voneinander absolut unabhängigen Paralleltest. Alternative Methoden haben Einschränkungen, die verhindern, dass die verfügbaren Testverfahren parallel ablaufen. Dadurch wird letztendlich der Testdurchsatz limitiert und die Flexibilität eingeschränkt.« Und zu den technischen Vorteilen kommen noch die wirtschaftlichen: der unabhängige Paralleltest mit nur einem Gerät bedingt geringere Investitionen für Testequipment in der Großserienfertigung, geringere Kosten für Testadapter und weniger Stellfläche für die Prüfmittel.