Boundary-Scan-Controller im 1-HE-Format

Mit dem neuen Modell der Boundary-Scan-Controller-Serie »DataBlaster« von JTAG Technologies lassen sich Boundary-Scan- und Funktionstest im Systemaufbau kombinieren.

JTAG Technologies hat eine Lösung vorgestellt, mit der Hersteller elektronischer Produkte den strukturellen Test und Funktionstest miteinander verknüpfen können. Der Boundary-Scan-Controller JT 37x7 / RMI (Rack-Mounted Instrument) steckt im 1 HE hohen 19-Zoll-Gehäuse – damit passt das Plattform-neutrale Gerät genau in ein Standard-Funktionstestsystem, unabhängig davon, ob es sich um eine PXI-, VXI- oder PCI-basierende Testumgebung handelt. Es bietet 256 programmierbare Ein-/Ausgänge, vier Boundary-Scan-Testzugangsports (Test AccTAP) und unterstützt alle Boundary-Scan-Testanwendungen einschließlich dem Test schneller digitaler Netze gemäß IEEE 1149.6, sowie der In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern und programmierbaren Logikbauteilen.

Sowohl die TAPs als auch die Ein-/Ausgänge sind über die Frontplatte des Gerätes zugänglich, wobei sich die TAPs je nach Testaufgabe kombinieren oder gruppieren lassen. Für spezielle Adaptierungsanforderungen kann der Anwender die TAPs auch über Flachkabel an der Frontplatte anschließen. Die Ein-/Ausgangskanäle sind individuell als Eingang, Ausgang, bidirektional oder als Tristate programmierbar, die Spannungsschwellen lassen sich für moderne, mit niedriger Spannung arbeitende Logikfamilien auf 1,5, 1,8, 2,5 oder 3,3 V einstellen. Um die Länge der Scan-Ketten zu reduzieren und die Testeffizienz zu verbessern, ist ein Bypass einer beliebigen Anzahl von jeweils 16 Kanalgruppen möglich.

Das RMI wird über den Hostcomputer mit Spannung versorgt und lässt sich wahlweise über USB, Ethernet 10/100 oder IEEE 1394 Firewire mit dem Computer verbinden. Dank seiner bis auf 40 MHz programmierbaren Testtaktfrequenz führt der Controller die Anwendungen sehr schnell aus - dies ist besonders für die Flash-Programmierung wichtig. Zudem sind die TAP-Spannungen für unterschiedliche Eingangs- und Ausgangsanforderungen einstellbar.

Das RMI wird über den Hostcomputer mit Spannung versorgt und lässt sich wahlweise über USB, Ethernet 10/100 oder IEEE 1394 Firewire mit dem Computer verbinden. Dank seiner bis auf 40 MHz programmierbaren Testtaktfrequenz führt der Controller die Anwendungen sehr schnell aus - dies ist besonders für die Flash-Programmierung wichtig. Zudem sind die TAP-Spannungen für unterschiedliche Eingangs- und Ausgangsanforderungen einstellbar.

Der neue Controller ist voll kompatibel zu allen Entwicklungstools von JTAG Technologies, wie »ProVision« und »Visualizer«. In Kombination mit einem Funktionstest arbeitet er nahtlos mit den gängigen Architekturen wie mit LabVIEW, LabWindows und TestStand von National Instruments, sowie mit kundenspezifischen C/C++- und Visual-Basic-Testsystemen zusammen. Der Preis liegt bei ab 6500 US-Dollar.